ウェビナーのお知らせ:TESCAN SOLARIS Xで半導体分析をマスターする
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半導体分野での解析能力を高める
半導体業界は、集積化、高密度化、小型化のさらなる偉業に向けて競争しており、時代の先を行くことは必須です。2024 年 3 月 5 日のカレンダーに印を付けて、半導体サンプル分析へのアプローチ方法を変える新しいウェビナーにご招待します。
ウェビナータイトル:「TESCAN SOLARIS Xによる半導体深部断面積、Ga+フリーTEMサンプル、ディレイヤリングのスループットと品質の向上」
日時:2024年3月5日(金)午前9時、午後5時
何を期待するか:
- Industry Evolution Insights: 半導体業界の小型化と高密度集積化の追求を包括的に理解します。これらのトレンドがデバイスの機能、速度、消費電力をどのように変えているかをご覧ください。
- 技術的な深堀り: Ga+イオン曝露の悪影響なしに、高速で大面積の切片作成とサンプル調製を行う能力で際立っているシステムであるTESCAN SOLARIS Xのすべてをご覧ください。
- 実践的なデモンストレーション: OLEDディスプレイコンポーネントから14nm FinFET CPU材料など、幅広い複雑なサンプルを扱うTESCAN SOLARIS Xの熟練度を示すライブデモンストレーションを体験できます。
参加する理由:
半導体分析の最新の進歩から、スループットと品質を向上させる適切なツールのデモンストレーションまで、参加者は半導体サンプル分析の課題を克服するための貴重な洞察を得ることができます。
TESCAN SOLARIS Xで半導体分析ワークフローを向上させるこの機会をお見逃しなく。
![TESCAN-semicon-webinar-02-インサイト](https://ja.info.tescan.com/hs-fs/hubfs/TESCAN-semicon-webinar-02-Insights.jpg?width=1080&height=1080&name=TESCAN-semicon-webinar-02-Insights.jpg)
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