Unleash Full Potential
Your Samples
withTESCAN Micro-CT
Systems:UniTOM XL および
UniTOM HR

モジュールから電極まで、マルチスケール解析に卓越した分解能、高いスループット、最適な画質を提供する、市場で入手可能な最も汎用性の高いマイクロCTシステムをご覧ください。

TESCANのマイクロCTシステムは最大11自由度を提供し、複雑なスキャン形状を使用した大きなサンプルのスキャンを可能にします。当社の直感的なVOI™スキャンワークフローは、オーバービュースキャンから情報を得て、包括的なマルチスケールアプローチを提供し、センチメートルレベルとマイクロメートルレベルの両方で洞察をもたらします。

高時間分解能スキャンにより、各スキャンにかかる時間はわずか数秒で、複数のサンプルの高スループットスキャンが可能です。当社のシステムは真のダイナミックマイクロCTを提供し、リアルタイムかつ3Dでプロセスを観察することができます。すべての主要なマイクロCTコンポーネントを最適に統合することで、最短のスキャン時間で最高の画質を保証します。これにより、マイクロCT解析はTESCANバッテリーのワークフローにおいて極めて重要なステップとなっています。

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TESCANマイクロCTシステムの主な利点 

非破壊特性評価

23

電池全体の内部構造に関する詳細な情報を短時間で得ることができる。

包括的ボリューム分析

マスク・グループ 3-1

センチメートルとサブマイクロメートルの両レベルで洞察を提供するマルチスケールアプローチの活用。

広い
範囲
試料

10-1

最大限のスループットで完全なバッテリーシステムまたは単一コンポーネントを研究します。

ハイスループット分析

マスク・グループ5

貴重なマイクロCTデータをかつてないスピードで取得。

ユーザーフレンドリーなインターフェイス

マスク・グループ4

ユーザーフレンドリーなコントロールでデータ収集プロセスを簡素化します。

マルチスケールVOI™ワークフロー

08-1

重要なエリアだけを詳細にスキャンする。

TESCANマイクロCTシステムであらゆるメリットを体験


  • バッテリーの最大品質を保証
    電極巻取り/積層、セル組立、電解液充填後のバッテ リー全体の非破壊大規模検査を迅速に実施。電極のアライメント、オーバーハング、集電体接続、ケーシングの品質を検査します。
  • 欠陥検出で電池容量の低下を防止:
    組立済みセルやサイクル中の汚染、大規模なボイド、クラック、剥離を特定します。TESCANのVOI™ワークフローのマルチスケール相関機能を活用して、詳細な欠陥解析を行います。 
×

  • 電池性能の向上:
    mmスケールの電池材料の体積における電極の気孔率、相互接続性、粒度分布のサブミクロン分解能の研究を実施する。
  • 故障解析をサポートし、バッテリーの寿命を延ばします:
    バッテリーの動的なin-situサイクル実験を実施し、物理的および劣化プロセス(
    )をリアルタイムで監視します。 
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