電池とモジュールの非破壊分析
三次元
洞察のために
マイクロCTによる電池開発のあらゆる段階での品質管理と欠陥検出
TESCANマイクロCTソリューションは、単一電極層からセル、モジュールレベルまで、バッテリーを検査するための高度な機能を提供します。マイクロCTにより、電池の完全性を損なうことなく、負極のはみ出し、電極アライメント、気孔率などの重要な品質パラメータを評価することができます。
TESCANのVOI™(Volume-of-Interest:関心領域スキャン)ワークフローを活用することで、より大きなサンプルの欠陥を正確に特定することができ、その後、関心領域に自動的にズームすることができます。Micro-CTは、TESCANのバッテリーワークフローの理想的な初期段階として機能し、さらなる解析のためのゾーンの特定を容易にします。
ミリメートルからセンチメートルまでの実世界スケールでの組立て電池の非破壊分析
最大230kVの加速電圧を持つ高出力X線源と、大面積のフラットパネル検出器、カスタマイズ可能なスキャンセットアップを組み合わせることで、1台のマイクロCT装置でさまざまなバッテリーサンプルを包括的にスキャンすることができます。
TESCAN UniTOM HRは、より小さなサンプルやコンポーネントのサブミクロンイメージングを実現し、TESCAN UniTOM XLは金属ケーシング内の大きなプリズムセルのスキャンに優れています。すべてのTESCANマイクロCTシステムは、小さなものから大きなものまで、どのようなサンプルにも対応できる比類のない柔軟性を備えています。
マイクロCTによるデバイス内バッテリー解析
micro-CTの非破壊3D特性評価能力は、電池が電力を供給する機器内の電池を研究するユニークな機会を提供する。完成した円筒形セルやパウチ型セルは、携帯電話、ウェアラブル機器、その他の電子機器の内部で分析することができます。
VOI™を活用することで、サンプルの高速オーバービュースキャンによって特定された関心領域にズームインすることが可能になります。最適化された撮影と再構成ソフトウェアでの補正により、アーチファクトが除去され、困難なアプリケーションでも優れた画質が保証されます。
スマートフォンのような大型の平面装置で最大限の解像度を得るために、TESCANのマイクロCT装置はすべて革新的なイメージング体制を提供しています。最近のハードウェアの進歩により、TESCAN独自のSPECTRAL CTが開発され、試料内の任意のポイントから構造、元素、組成の複合情報を取得することが可能になりました。
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