TESCANは、7月29日から8月1日まで米国オハイオ州クリーブランドで開催されるMicroscopy & Microanalysis (M&M) 2024会議への参加を発表いたします。
この権威あるイベントは、顕微鏡と微小分析の専門家にとって重要な集まりであり、私たちは科学界への最新の進歩と貢献を紹介することを熱望しています。今年は特に、AMBERシリーズの待望のアップグレードであるTESCAN AMBER 2をお披露目できることを嬉しく思います。
顕微鏡の未来を体験しよう
ブース521では、TESCAN AMBER 2、TESCAN CLARA、TESCAN TENSOR、TESCAN micro-CTなどのデモシステムをご覧いただけます。
当社の専門家チームがライブ・デモンストレーションを行い、ご質問にお答えし、当社の革新的なソリューションがお客様の研究開発ワークフローをどのように強化できるかをご説明いたします。
TESCAN AMBER 2の正式発表
この度、M&M2024にてTESCAN AMBER 2を正式に発表する運びとなりました。発表会は7月29日、弊社ブース（No.521）にて行われます。
この先進的な FIB-SEM システムの開発者に会い、その能力を探るチャンスです。AMBER 2は、包括的なサンプル前処理と特性解析のための卓越したスピード、精度、多用途性を提供します。
最新ツールをご覧ください：TESCAN AURA Gentle Ion Beam™とTEM AutoPrep Pro™ です。
AMBER 2と並んで、TEMサンプル前処理を強化するために設計された2つの新しいツールをご紹介します：
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TESCAN AURA Gentle Ion Beam™：このシステムは、TEM試料作製におけるガリウムFIBによる損傷を最小限に抑え、非晶質化損傷を最小限に抑え、試料の結晶構造を保持します。
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TESCAN TEM AutoPrep Pro™：このソフトウェアは、TEM試料作製プロセス全体を自動化・最適化し、夜間の無人運転中にミリング、リフトアウト、トリミング、ポリッシングなどの作業を行うことで生産性を向上させます。
学術発表に参加する
私たちのチームは、会議中にいくつかの科学的貢献を発表する予定です。これらのセッションに参加し、新たな知見を得るとともに、顕微鏡および微量分析の最新の進歩について学んでください：
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鉱物のスペクトルマイクロCTイメージングによる原子情報と密度マップの検索
日時：2024年7月29日（月）午後3時～5時
場所展示ホール ポスターボード7
発表者ウェスリー・デ・ブーバー博士
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Timepix3ベースのピクセル化検出器を用いた走査型電子顕微鏡用新型完全集積型開閉式4D STEM検出器
日時：2024年7月29日（月）15:00〜17:00
場所展示ホール ポスターボード ?
発表者ラスティスラフ・モトゥズ
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形成および加熱中のバッテリー電解質挙動：高分解能ダイナミックマイクロCTによる新たな洞察
日時：2024年7月30日（火）午前11時45分～午後12時00分
場所ハンティントン・コンベンション・センター ルーム19
発表者クセニヤ・ニコリック博士
カスタマーサービスチームとのミーティングを予約する
TESCANのカスタマーサービス・チームは、会議期間中、お客様の具体的なニーズや、TESCANのソリューションがお客様の研究開発をどのようにサポートできるかについてご相談に応じます。
M&M2024へのご訪問を最大限にお楽しみいただくために、私たちのチームとのミーティングをご予約ください。
ブース521
ぜひ弊社ブースにお立ち寄りいただき、デモスロットをご予約の上、TESCAN AMBER 2と新しいツールのすべてをご覧ください。この機会をお見逃しなく、TESCANのエキスパートと交流し、TESCANがどのように顕微鏡と微小分析の分野を発展させているかを直接ご覧ください。
TESCAN AMBER 2と新しいツールの詳細については、ウェブサイトhttps://info.tescan.com/matsci-fib-sem/tescan-amber-2をご覧ください。