プラズマFIB-SEMとICパッケージの故障解析|TESCAN Insights

ウェビナーのお知らせ:TESCAN SOLARIS Xで半導体分析をマスターする

written byTescan Semiconductors Team|2024年02月14日 11時14分16秒

半導体分野での解析能力を高める

半導体業界は、集積化、高密度化、小型化のさらなる偉業に向けて競争しており、時代の先を行くことは必須です。2024 年 3 月 5 日のカレンダーに印を付けて、半導体サンプル分析へのアプローチ方法を変える新しいウェビナーにご招待します。

ウェビナータイトル:「TESCAN SOLARIS Xによる半導体深部断面積、Ga+フリーTEMサンプル、ディレイヤリングのスループットと品質の向上」 

 

日時:2024年3月5日(金)午前9時、午後5時