プラズマFIB-SEMとICパッケージの故障解析|TESCAN Insights

ウェビナーのお知らせナノスケールを使いこなす - 半導体デバイス解析をマスターする

Written byTescan Semiconductors Team|5月 23, 2024 9:13:22 AM

半導体デバイス分析に新たな知見をもたらすウェビナーにご参加ください。TESCAN GroupとImina Technologiesが共同で開催するこのセッションでは、先進的な半導体デバイスの自動化された大面積プラズマFIB遅延処理とin-situナノプロービングの革新的な方法を掘り下げます。

 

ウェビナーのタイトル"最新半導体デバイスの自動大面積プラズマFIB遅延加工とin-situナノプロビング"

 

日時6月12日日時日本時間2024年6月12日午前9時および午後5時

 

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