マイクロCTチーム
マイクロCTは、以下のような多用途で強力なイメージング技術として際立っている。 提供するマイクロCTは、電子部品の複雑な3Dマイクロアーキテクチャに対する重要な洞察を提供する汎用性の高い強力なイメージング技術です。このアプリケーションノート ではハイスループットかつマルチスケールな情報を提供することで、故障解析と研究開発の両面でマイクロCTが果たす重要な役割について解説します。
TESCANのマイクロCTシステムは、試料の完全性を損なうことなく欠陥を特定するための第一歩となる、非破壊のマルチスケール特性評価ツールを提供します。
このアプリケーション・ノートで扱う主なポイント
- 故障解析と研究開発マイクロCTは微小な欠陥を検出し、さまざまな条件下でデバイスを検査することで、極めて重要な高解像度画像を提供します。
- マルチスケール分析のための多用途システム：TESCANのマイクロCTシステムは、幅広いサンプルサイズに対応します。Volume of Interest Scanning (VOI)ワークフローにより、余分なサンプル操作をすることなく、選択した領域の高解像度スキャンが可能です。
- リアルタイム4Dイメージング：マイクロCTは、5秒以下の時間分解能で高速プロセスのリアルタイムイメージングを可能にします。Acquila™とPanthera™ソフトウェアによるダイナミックCTは、高度な4D再構成と可視化を提供します。
- バッテリーの品質評価TESCANのVOIワークフローは、バッテリーを素早く特定し、詳細な分析のために構造上の欠陥を特定します。
- 迅速な品質管理：当社のシステムは数分で高品質のスキャンを提供し、最適化されたスキャンは1時間未満で完了するため、効率的な品質保証が保証されます。
- 大型部品の故障解析：Micro-CTは、HDDコンポーネントを非侵襲的に検査する方法を提供し、ハードディスク・ドライブの「ヘッド・クラッシュ」のような故障の特定と対処に不可欠です。
- TESCAN スペクトルCT:高分解能イメージングによる非破壊分析、元素同定、化学組成測定が可能で、マイクロエレクトロニクスの品質管理や故障解析に多用途。
情報を入手し、先手を打つ。当社のテクニカルノートをダウンロードして、家電製品のQA/QCに変革をもたらしましょう。
.jpg)
.jpg?width=1500&height=843&name=L1%20UniTOM%20HR%20(4).jpg)
TESCANのUnitom HRと Unitom XLは、マルチスケールとダイナミック機能で際立っています。
これらの多用途システムは、以下を提供する：
- より高いスループット：より多くのデバイスをより速く検査。
- 動的試験：高温下を含むマイクロエレクトロニクス部品のその場評価。
- スペクトル分析：様々な組成の材料を識別する。
- 特徴上記の機能はすべてミクロン分解能（UniTOM XL）、あるいはサブミクロン分解能（UniTOM HR）で利用可能ですが、スペクトル解析はUniTOM XLでのみ利用可能です。
当社のシステムは、最も複雑なサンプルであっても、位相間のコントラストに優れた画質を提供します。
その違いを体験してください！
私たちの研究と革新にご関心をお寄せいただき、ありがとうございます。
もっと読む