2月26日から3月2日まで開催されたMC2023には、材料科学、生命科学、計測、方法論など様々な分野の第一人者や新進の研究者が一堂に会した。MC2023は、材料科学、生命科学、計測学、方法論の各分野の第一人者や若手研究者が一堂に会し、現在のトレンドや新たな発見について議論する場となった。
TESCANは、"The Role of Electron Microscopy and Focused Ion Beam Characterization Methods in the Evaluation of Electrochemical Materials and Their Interphases"（電気化学材料とその界面評価における電子顕微鏡と集束イオンビーム評価法の役割）と題した60分の包括的な講演でステージに立った。このプレゼンテーションでは、電池材料の分析向上におけるTESCANの貢献が強調された。
さらに、バッテリー技術の解析に欠かせないAMBER XプラズマFIB-SEMにスポットライトを当てた2つのブースを展示しました。統合ToF-SIMSソリューションを搭載したAMBER Xは、TESCANがこの分野で成し遂げた進歩を実証しました。
会期中、ご来場いただき、バッテリーの進化に向けた当社のソリューションに関心を寄せていただいた皆様に心より感謝申し上げます。
AMBER XプラズマFIB-SEMやその他のTESCANソリューションの詳細については、当社のウェブサイトをご覧ください。TESCANの今後のイベントや進歩に関する最新情報にご期待ください！